半導体やプリント基板は製造技術の進歩によって、より一層小型化し、回路の端子間隔も狭くなってきました。これに伴って検査用プローブカードのピン間隔も狭ピッチ化が求められています。この狭ピッチ化の流れは、特にロジック系半導体検査の分野でさらに進むと予想されています。
当社の製品は狭ピッチプローブ設定が可能で、最少実績ピッチ４０μｍを実現しました。プローブの多ピン設定が可能で多数DUT同時測定からウエハー一括測定まで対応しています。