株式会社コーヨーテクノス

トップページ » 検査用途から選ぶ » 半導体検査

半導体検査Semiconductor inspection

プローブカード

半導体検査工程でLSI(半導体集積回路)製造のウエハーテスト工程で、シリコンウエハー上に形成されたLSIチップの電気的検査に用いられる治具です。
ワイヤープローブを使用することで、プローブを垂直に立てることが出来、より自由なプローブ配置が可能となります。
また、垂直に検査対象物と接触するため、従来型のカンチレバータイプのプローブに比べ検査キズ(打痕)の大幅な改善が見込めます。

プリント基板及び半導体検査に関するお問い合わせ・ご相談はお気軽にご相談ください。

TEL
0266-73-5237
FAX
0266-73-0155